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光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具,得益于其超高的灵敏度和空间分辨率(20μm)。LUNA6415还具备单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试,大大降低了测试成本,同时简化了测试流程。相比其他测试系统,将大大增加测试产量等优势。