光学器件扫描测试系统

•  实时功率参照

1 精确的WDL/PDL特性测试

　·高功率重复性<±0.02 dB

　·高PDL重复性±0.01 dB

2 激光源功率自动标准化　

•  利用扫频处理单元(数据采集单元)的重新缩放算法

 ·高波长分辨率以及准确性

 ·减少测量时间

• 可同时多通道测量
•  支持使用动态库(DLLs)开发定制软件(VB.net、C#、C++ 或LabVIEW)

·方便设置测量参数

·数据分析