PLC CHIP高速检查设备

本设备是 高速检测PLC芯片损失的设备， 用在检测光分路器，阵列波导光栅等

用途：测试PLC芯片尺寸、外观、IL

特征:    1)射入侧面的调芯速度约10秒和高速

           2)射出侧面的测量采用连续扫描的方式，所以速度非常快

3) 用射出侧面的照相机 检测出划痕，垃圾等缺陷检查。(可选项)

4)可以检测出射出侧面导波管的间距误差

5) PDL测量检查（可选项）