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SPA-100高精度光子器件分析仪

更新时间:2023/5/23 17:32:07




  • 测量光学器件的I/RL
  • 可指定区域分析光学器件,测试不同区域的多个折射点
  • 反射点的光谱分析,70dB高动态范围
  • 高精度距离探测,为SiPh 和 PIC 晶圆耦合提供参照




规格

种类

单位

参数

备注

波长

nm

1480-1640

取决于光源

背向反射测试

测量范围

m

4.5

光纤长度

取样分辨率

um

5

可调范围160nm

重复性

um

± 30

光纤长度

IL测量

测量带宽

dB

≥ 70

传送模式

≥ 10

反射模式

灵敏度

dB

-135

反射模式

精度

dB

±0.1

传送和反射模式

分辨率

dB

0.1

 

波长分辨率

pm

≤ 2

 

近距离测量

测量范围

um

50 - 10,000 (10 mm)

常规光纤PC端面

显示分辨率

um

1

 

重复性

um

± 1

光纤长度

相对精度

um

± 2

光纤长度

测量速度

 

s

5

扫描速度 100nm/s,
调节范围40nm,
取样分辨率 20um

接口

测量端口

-

2

IL的输入/出端各一个

光纤

-

PMF

 

连接器

-

FC/APC 或 SC/APC

 

远程接口

-

USB